@MASTERSTHESIS{ 2011:1565632016, title = {EFEITOS DA ABERRAÇÃO CROMÁTICA LONGITUDINAL E DA TEMPERATURA SOBRE O ESPALHAMENTO RAMAN CONFOCAL DE GRAFENO}, year = {2011}, url = "http://tedebc.ufma.br:8080/jspui/handle/tede/734", abstract = "A microscopia Raman é uma das técnicas experimentais mais versáteis e tem sido muito utilizada no estudo das propriedades físicas de materiais. A microscopia confocal em combinação com a espectroscopia Raman tem levado a obtenção de imagens de estruturas em escala nanométrica. Estas ferramentas conjugadas têm sido amplamente utilizadas no estudo de propriedades de materiais em baixas dimensões, como nanotubos de carbono e grafeno. O grafeno é um material bidimensional que possui uma estrutura hexagonal. Devido à sua excelente qualidade cristalina, esse material tem apresentado grandes perspectivas de aplicações estratégicas no futuro próximo. Neste trabalho foram discutidos os efeitos da aberração cromática longitudinal e o efeito da irradiância sobre espectros Raman do grafeno obtidos por um microscópio Raman confocal. Consistente com os resultados da literatura, a intensidade do sinal Raman para o modo G aumentou linearmente com o número de camadas, até o limite de 6 camadas identificadas nas nossas amostras. Os resultados obtidos mostraram forte dependência da intensidade do sinal com a aberração cromática longitudinal. Por causa deste efeito, a intensidade do pico G foi subavaliada em cerca de 20%, enquanto a intensidade do pico G foi subavaliada em aproximadamente 56%. Medidas realizadas para confirmar o efeito da aberração cromática longitudinal mostraram uma aberração de 1,8 μm/eV para o espalhamento Raman e 2,0 μm/eV para o espalhamento Rayleigh. Medidas em grafeno com defeitos revelaram a grande dependência na posição dos picos com posição focal ou com a potência do laser. Mudanças de 6 cm-1 no modo G foram observadas para potências entre 44 e 175 μW.", publisher = {Universidade Federal do Maranhão}, scholl = {PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM FÍSICA/CCET}, note = {FISICA} }